Da' tulai Doamne ce-i aici, Doar FD si porodici
1. Cate bistabile sunt necesare pentru implementarea controllerului TAP, aferent standardului IEEE 1149.1?
4
2
8
16
32
6
2.Care sunt dezavantajele testarii on-line concurente?
Necesita echipamente de test automat
Latenta foarte mare
Nu se pot detecta defecte tranzitorii
Hardware suplimentar mare
3. Care dintre urmatoarele cauze influenteaza costul ridicat al testarii?
Costul testarii insasi
Costul fabricatiei
Costul ATPG-urilor
Costul aducerii in service a unor sisteme (ex: automobile); din cauza unor componente electrice cu probleme
Costul proiectarii
Costul echipamentelor de test automat
4. Care este arhitectura de sistem care asigura cel mai bun compromis intre siguranta si disponibilitate?
2oo3
2oo2
1oo2D
2oo2D
1oo2Dcomp
5. Ce valori au variabilele XXX si YYY din afirmatia urmatoare? “Un domeniu de acceptare larg, pentru un test de acoperire, se asociaza cu o sensibilitate XXX si o specificatie YYY”
XXX=scazuta, YYY=scazuta
XXX=inalta, YYY=inalta
XXX=inalta, YYY=scazuta
XXX=scazuta, YYY=inalta
6. Ce relatie exista intre MTBFtmr si MTBF-ul unei componente(MTTFsampler)?
MTBFtmr < MTTFsimplex
MTBFtmr = MTTFsimplex
MTBFtmr > MTTFsimplex
7. Ce alte tehnologii de testare trebuie aplicate, in afara celei de tip blocat-la-0(1), pentru o mai buna acoperire a defectiunilor?
Testarea functionala
Testarea utilizand algoritmul D
Simularea cu defect paralela
Simularea cu defect concurenta
Testare Iddq
Testare utilizand metoda caii critice
9. Care sunt avantajele testului functional?
Evaluare usoara a gradului de acoperire a defectelor
Nu necesita cunoasterea netlist-ului
Are capabilitati de diagnoza
Este independent de specificatii
Permite testarea at-speed
Poate fi generat automat
10. Care sunt instructiunile obligatorii, conform standardului IEEE 1149.1?
RunBIST
Sample/Preload
Bypass
Intest
Extest
IdCode
Highz
Clamp
12. Care este complexitatea algoritmului March de testare a unei memorii: {↕(w0); ↑(r0,w1); ↓(r1, w0); ↕(r0)}?
4ln(n)
6ln(n)
6n
4n
13. “Din punct de vedere al sigurantei, software-ul esueaza in mod diferit fara de hardware”. Care dintre urmatoarele argumente vin in sprijinul afirmatiei anterioare?
In mod uzual, riscul legat de software nu descreste odata cu cresterea experientei de operare
Software-ul nu aduce mai multa flexibilitate, fata de hardware
Doua module software diferite nu esueaza in mod independent
In software nu trebuie aplicata aceeasi disciplina ca in hardware
14. Asociati notiunile cu definitiile corespunzatoare: Notiuni: 1. Controlabilitate, 2. Observabilitate; 3. Predictibilitate Definitii: A. Abilitatea de a obtine valori cunoscute pe iesiri ca raspuns la un set de stimuli de intrare B. Abilitatea de a stabili o valoare de semnal specificata intr-un anumit nod al circuitului prin setarea de valori pe intrarile primare C. Abilitatea de a determina valoarea semnalului dintr-un anumit nod al circuitului prin controlul intrarilor primare si observarea iesirilor primare
1-a, 2-c, 3-a
1-c, 2-a, 3-b
1-a, 2-b, 3-c
1-b, 2-a, 3-c
1-b, 2-c, 3-a
1-c, 2-b 3-a
15. Care dintre urmatoarele ipoteze sunt specifice modelului Jelinski -Moranda de evaluare afiabilitatii programelor?
Intervalele de timp intre defectarile succesive sunt varibile aleatoare independente, distribuite dupe legi exponentiale, cu parametri posibil diferiti
La fiecare defectare a programului se efectueaza o depanare de durata neglijabila pin care se elimina o fractie data c, constanta din numarul total de erori N
Se ia in considerare atat timpul de operare al programului cat si timpul de testare
Rata de defectare este propotionala cu numarul de erori latente ale programului
16. Care dintre raspunsurile urmatoare este corect? 1) In circuitele TTL defecte de tip scurtcircuit se modeleaza prin porti logice SAU 2) In circuitele CMOS defectele de tip scurtcircuit se modeleaza prin porti logice SI
Niciunul
1 si 2
Doar 1
Doar 2
17. Care este ordinea de aplicare a modurilor de lucru, in regim de testare, conform standardului IEEE 1149.1?
SCAN->CAPTURE->UPDATE->SCAN
CAPTURE->SCAN->UPDATE->SCAN
UPDATE->SCAN->CAPTURE->SCAN
SCAN->UPDATE->CAPTURE->SCAN
18. Care dintre relatiile de cazualitate este cea corecta?
Esec->defect->defectiune
Defectiune->defect->esec
Defectiune->esec->defect
Defect->defectiune->esec
Esec->defectiune->defect
Defect->esec->defectiune
19. Care dintre urmatoarele reguli sunt din categoria regulilor ad-hoc de proiectare pentru testabilitate?
Furnizarea a doua ceasuri, unul pentru functionarea normala si unul pentru testare (clock-scan).
Partitionarea numaratoarelor si a registrilor de deplasare
Evitarea utilizarii redundantei logice
Furnizarea de logica pentru intreruperea buclelor de feedback
Utilizarea tehnicii de scanare marginala
Folosirea de registrii LSSD
20. Unde se poate folosi simularea cu defect?
La evaluarea gradului de configurabilitate al circuitului
Pentru a convinge managerul ca echipa de testare lucreaza eficient
La calculul gradului de acoperire al defectiunilor
La constructia dictionarului de defecte, pentru diagnoza ulterioara
La analiza testabilitatii
La analiza operarii circuitului, in prezenta defectelor
21. Care dintre urmatoarele costuri sunt legate de procesul de testare?
Costul generarii vectorilor de test
Costul generarii informatiei de localizare a defectelor
Costul legat de plata managerilor
Costul echipamentului de productie a unitatii testate
Se da fiabilitatea urmatoarelor componenye R1=0.91, R2 = 0.98, R3 =0.89, R4 = 0.9. Care este relatie corecta?
Ra = Rb
Ra = 1, Rb < 1
Ra <1, Rb = 1
Ra > Rb
Ra < Rb
Pentru testul de interconexiuni dintre circuitele cu boundary scan din figura, circuite realizatein tehnologia TTL, care dintre urmatoarele secvente de iesire este cea corecta, daca secventa de intrare este xxxx100xxxxxxxxxx?
Xx..xxx0100
Xx…xxx0010
Xxx…xx1100
Xxx…xx0011
26. Identificati variantele cu semnalele corecte, aferente celulei. Registrul de instructiuni IEEEI 1149.1 din figura de mai jos.
4-Mode si 6-UpdateIR si 9-TRST
4-ShiftIR si 6-Mode si 9-Reset
4-ShiftIR si 6-UpdateIR si 9-TRST
4-ShiftIR si 6-Update si 9-Reset
27. Care dintre urmatoarele variante sunt corecte pentru circuitul de mai jos?
1-TDI si 3-TCK
2-TSM si 3-TCK
2-TSM si 4-TDO
1-TDI si 4-TDO
28. Care dintre urmatoarele formule reprezinta coeficientii de dispensibilitate si de propotie a disponibilitatii, sunt corecte? Ka (coef de disponibilitate) = MTBF/(MTBF+MTR), Kd (prop disponibilitatii) = MTR/MTBF
Nici o formula nu este corecta
Numai formula pentru Kd este corecta
Numai formula pentru Ka este corecta
Ambele formule sunt corecte
30. Care dintre componentele vietii unui produs apartin perioadei TTM (Time to market)
Vanzare si distributie
Planificarea procesului de productie
Mentenanta
Controlul calitatii
Instalare si functionare
31. Care dintre urmatoarele elemente fac parte dintre principiile de managementul calitatii, conform standardului ISO 9000:2015?
Abordarea bazata pe proces
Relatia cu bancile, in beneficiul reciproc
Imbunatatirea continua
Orientarea spre cerintele societatii
Abordarea sistemica a managementului
Implicarea angajatilor
Orientarea pe client
Care este valoarea probabilitatii de supravietuire a unui lot de produse la momentul t=m (MTBF)?
E^1
E^-2m
E^-2*m
E^-1/2
E^-1
E^1/2
33. Care dintre urmatoarele definitii ale dependabilitatii sunt corecte?
Dependabilitatea este termenul colectiv utilizand pentru a descrie lipsa performatiei disponibilitatii si a factorilor care o influenteaza performanta fiabilitatii, performatnta mentabilitatii si performanta suportului de intretinere
Dependabilitatea descrie modul cum se influenteaza una pe alta componentele unui sistem
Dependabilitatea unui sitem consta in abilitatea de a evita esecurile unui serviciu care sunt mai frecvente si sunt mai severe decat este permis
Dependabilitatea este abilitatea de a furniza un serviciu care poate fi considerat justificat ca fiind de incredere.
35. Care dintre urmatoarele relatii sunt adevarate, pentru o componenta hardware (t-timp, R- fiabilitate)
T1<t2 => R(t1) > R(t2)
T1>t2 => R(t1) > R(t2)
T1 <t2 => R(t1)<R(t2)
T1>t2 => R(t1)<R(t2)
36. Legea de distributie normala ( Gauss) se foloseste pentru modelare fiabilatii produselor:
In perioada de imbatranire
In perioada de rodaj
In timpul actiunilor de mentenanta
In perioada vietii utile
37. Standardul ISO/IEC 90003 este pentru:
Laboratoarele medicale
Industria de automobile
Ingineria software
Vibratii si socuri mecanice
39. Care dintre formulele de calcul a fiabilitatii unor sisteme cu structura serial, respectiv paralele este cea corecta ? Rs = R1*R2, Rp = (1-R1)*(1-R2).
Numai formula pentru serie
Numai formula pentru paralel
Ambele
Niciuna
40. Un lot de 40 de dispositive este supus unui test cu durata de 500 de ore. Rezultatele obtinute sunt urmatoarele: dupa 100 de ore apare o defectare, dupa 180 de ore alte opt defectari, iar dupa 320 de ore inca unsprezece. Care este intensitatea de defectare, daca se considera constanta?
A
B
C
D
E
F
G
H
42. Când există o diferență între varianta bună și defectuasă a circuitului, verificând aceeași ieșire, vorbim despre:
Excited fault
Error
Short
43. Examinarea unui sistem in mijlocul ciclului de dezvoltare, in care rezultatul unei faze satisface cerintele stabilite in timpul fazei anterioare se numeste:
Validare
Verificare
Atestare
45. LFSR (Linear Feedback Shift Registers) sunt folosite in testare pentru:
Capturarea intrarilor/iesirilor a circuitelor low-programmble
Compresia iesirilor secventelor la frecvente nominale
Generarea pseudo aleatoare a secventelor de intrare
46. Observati diferenta dintre cele doua formule pentru indicatorii de fiabilitatea serie si paralela. Marcati raspunrile corecte:
Doar formula pentru serie e corecta
Ambele formule sunt corecte
Doar formula pentru paralel e corecta
47. Structura din imagine este tipica pentru:
LRNG (Lightweight Random Number Generator)
JTAG(Boundary Scan)
BIST(Build-in self-Test)
48. Cum putem simplifica un circuit secvential pentru a computa vectorul de test?
Prin replicarea structurii, in starile secventiale successive, intr-un circuit combinational mare
Prin analizarea dispersia acoperirii defectelor pentru probabilitatea de a functiona in parametrii
Prin cautarea echivalentului si a greselilor dominante, pentru toate portile SI-EXCLUSIV din circuit
49. Abilitatea de a gasi valoarea din orice nod a unui circuit prin setarea valorilor pe intrarile primare si masurarea iesirilor primare inseamna:
Observabilitate
Predictibilitate
Controlabilitate
50. Latenta defectelor inseamna
A. Frecventa mica de testare
B. Propagare lenta a testelor
C. Aparitia intarziata a erorii
51. In standardul ISO 9600, o insitutie externa independenta verifica managementul calitatii sistemului unei organizatii si recunoate conformitatea cu standardelor cerute. Acest process este numit:
Acreditare
Certificare
Abilitare
52. Graful “bathtub” (cada/vana/tub de baie) se refera la:
Evolutia timpului mediu dintre defectiuni/esec/avarie
Evolutia pericolului de defectiune in timp
Evolutia mentenantei in timp
53. Testarea IDDQ este despre:
Calitate cu respect pentru datele din device
Masurarea curentului de repaus consumat de circuit (quiescent)
Calificarea testelor dominante prin prioritizarea lor
54. Structura din imagine este tipica pentru:
LRNG (Lightweight Random Number Generator)
BIST(Built-in self-Test)
JTAG(Boundary Scan)
55. De ce este ingineria/proiectarea concurenta buna?
Deoarece competitia favorizeaza inovatia si scad preturile
Deoarece procesarea paralela e mult mai eficienta pentru retele neuronale
Deoarece ia in considerare toate aspectele legate de dezvoltare si viata ale produsului
57. Care este principalul avantaj al RAID 0 (striping)?
Fiabilitate mai buna a datelor
Memorie magneto-rezistenta
Accesarea mai rapida a datelori
58. Ce inseamna “randament” in productia de circuite integrate?
Compromisul de-a scadea frecventa pentru a obtine mai multa stabilitate
Raportul dintre produsele fără defect și toate produsele făcute (defect-free/all manufactured
Tratarea impotriva caldurii/radiatiei a circuitelor destinate conditiilor dure de mediu.
59. Care este scopul scaderii dinamice a voltajului si a frecventei unui processor?
O performanta mai buna
O durata de viata mai lunga a bateriei
Testare mai usoara
60. Metoda “formula probabilitatii totale” inseamna:
Caculculand acoperirea testului pentru generari de teste folosind coeficienti binari polinomiali
Calculand probabilitatea dispersiei totale pentru distributia Gaussiana
Calculand fiabilitatea unui sistem care nu poate fi descompus in structuri aflate in serie sau parallel
61. Testarea online a circuitelor digitale se refera la:
Sistemul este configurat si conectat la reteaua de internet
Testand liniile de alimentare a sistemului
Testand sistemul in timpul functionarii sale normale
62. Posibilitatea de-a obtine valori cunoscute pentru iesiri ca raspuns pentru un set de stimuli pe intrare se refera la:
Predictabilitate
Controlabilitate
Observabilitate
63. Procesul de examinare de la finalul unui process de dezvoltare, in cadrul caruia rezultatul este conform cerintelor sistemului se numeste:
Evaluare
Verificare
Validare
64. Care este principalul avantaj al RAID 1 (oglindire)?
Memorie magneto-rezistiva
Acces mai rapid la date
O mai buna fiabilitate
69. Care este ordinea corecta a actiunilor intr-un process de imbunatatire a calitatii?
Check -> Do -> Plan -> Act
Plan -> Do -> Check -> Act
Do -> Plan -> Check -> Act
Do -> Check -> Plan -> Act
70. Care dintre urmatoarele sunt regului adhoc de proiectare pentru testabilitate
Adaugarea de registrii LSSD
Partitionarea circuitelor combinationale mari
Activarea oscilatoarelor interne si a clock-urilor in timpul testului
Evitarea utilizarii redundantei logice
71. Noțiunea „aliasing” în testare se referă la:
Un test poate fi refolosit pentru a detecta multiple dual stuck-at erori în circuit.
O combinație de intrare poate rezulta într-un output corect, chiar dacă o eroare este prezentă în circuit.
Un echipament de testare poate fi folosit pentru a testa mai multe circuite care au aceeași structură
72. În testarea circuitelor digitale, compactarea output-ului se referă la:
Menținerea output-ului într-o stare de înaltă impedanță, pentru a testa un alt circuit.
Proiectarea circuitului cu mai puține output-uri, pentru o testabilitate ridicată.
Calcularea unei semnături digitale a output-ului, pentru a reduce necesarul de stocare.
73. Testarea offline a circuitelor digitale înseamnă:
Sistemul este folosit numai pentru testare.
Sistemul este deconectat de la rețea.
Testarea liniilor secundare ale sistemului.
74. Se da fiabilitatea urmatoarelor componente: R1=R2=R3=R4=0.9. Cum arata schema sistemului, daca tinem cont de faptul ca toate componentele trebuie sa functioneze pentru ca sistemul sa fie functional?
A
B
C
61. Conform principiului lui Pareto X% dintre efecte sunt produse de Y% cauze.Care sunt valorile corecte pentru X si Y?
X = 20, Y =20
X = 50, Y =50
X = 20, Y =80
X = 80, Y =20
Care este motivul principal al CRESTERII dinamice a tensiunii si frecventei in processor?
Performanta mai buna
Durata de viata mai lunga a bateriilor
Testabilitate mai usoara
Cu notatiile din curs, care dintre urmatoarele formule este cea corecta:
Z(ti) = ∆ni/(∆ni*N0)
Z(ti) = (∆ti*∆ni)/N0
Z(ti) = ∆ni/(∆ti *N0)
Z(ti) = (∆ti*∆ni)/N0
Care este arhitectura de sistem care asigura cel mai bun PDF-Probability of Failure on Demand, arhitectura implementata in cele mai multe PLC-uri cu siguranta ridicata ?
2oo3
1002DCoup
2oo2
2oo2D
1002D
8. Care este fiabilitatea unui sistem TMR, daca z=cst si Rvot(1)=1?
Rtmr(t) = 2e^(-2zt)-2e^(-3zt)
Rtmr(t) = 3e^(-2zt)-2e^(-3zt)
Rtmr(t) = 2e^(-3zt)-3e^(-2zt)
Rtmr(t) = 3e^(-2zt)-2e^(-2zt)
80. Care este gradul de fiabilitate a unui sistem duplex daca z=const si Rcoup(t)=1?
E^(-2zt)-*2ce^(-zt))*(1-e^(-zt))
E^(-zt)-*2ce^(-zt))*(1-e^(-zt))
E^(-2zt)-*ce^(-zt))*(1-e^(-zt))
E^(-zt)-*ce^(-zt))*(1-e^(-zt))
{"name":"Da' tulai Doamne ce-i aici, Doar FD si porodici", "url":"https://www.quiz-maker.com/QPREVIEW","txt":"1. Cate bistabile sunt necesare pentru implementarea controllerului TAP, aferent standardului IEEE 1149.1?, 2.Care sunt dezavantajele testarii on-line concurente?, 3. Care dintre urmatoarele cauze influenteaza costul ridicat al testarii?","img":"https://www.quiz-maker.com/3012/CDN/98-4815576/1.png?sz=1200-00000000000962505300"}