CAF Final
CAF Final Quiz on Reliability and Quality
Test your knowledge on reliability, quality control, and electronic components with our comprehensive CAF Final Quiz. Designed for students and professionals alike, this quiz will challenge your understanding of important concepts and standards in the field.
Join us to explore topics such as:
- Reliability metrics
- Quality assurance standards
- Statistical process control
- Failure rate and non-failure analysis
- Quality control methodologies
Indicatorul de fiabilitate t0,2 = 2000 h are semnificația:
Media timpului de buna functionare a sistemului este inferioara valorii de 2000 h
Frecventa defectarilor sistemului corespunzatoare unei durate a misiunii de 200 h este de 0.2
Sistemul poate fi garantat ca functineaza 200 h cu prob de 80%
Sistemul poate fi garantat ca functioneaza 2000 h cu prob de 20%
Normativul MIL-STD-105 / ISO 2859 se referă la:
Controlul static al calitatii la receptie prin masurare
Controlul static al calitatii la receptie prin atribute
Controlul pe flux al calitatii prin atribute
Controlul progresiv al calitatii prin masurare
Dacă pentru o componentă - având legea uzuală de distribuție pentru componente electronice - media timpului de bună funcționare este de 103 ore, abaterea medie pătratică a timpului de funcționare este:
10^-6 ore
10 ore
10^3 ore
10^6 ore
Controlul calității prin atribute presupune că:
Se ia o decizie binara (corespunzator / necorespunzator) asupra calitatii produselor
Calitatea produselor se controleaza prin esantionare
Niciunul dintre raspunsuri
Se face un control 100% asupra calitatii produselor
Indicatorul de fiabilitate care se specifică în mod obligatoriu beneficiarului la cumpărarea unui sistem electronic este:
Media timpului de buna functionare
Cuantila timpului de functionare
Functia de fiabilitate a sistemului
Dispersia timpului de functionare
Pe baza rezultatelor unei încercări de fiabilitate efectuate asupra unui eșantion de n = 100 de componente electronice (fam este numărul cumulat de defectări):
Z(200,400) = 15*10^-4 h
F(100,200) = 5*10^-4 h
F(200,400) = 15*10^-4 h
Z(100,200) = 5*10^-4 h
F = n(y) - n(x) / n * dt
Z = n(y) - n(x) /(n- n(x)) * dt
Modelul structural de fiabilitate alăturat reprezintă:
Schema unui circuit electric - sol legea lui Om
Diagrama de fiabilitate a unui subsistem nedecoompozabil - sol Bayes
Diagrama de fiabilitate a unui subsistem nedecoompozabil - sol triunghi stea
Diagrama de fiabilitate a unui subsistem nedecoompozabil - sol Kolgmorov-Smirnov
Pentru diagrama de fiabilitate de mai jos: Sunt LEGĂTURI minimale următoarele combinații:
ACFGM
ABGO
ABGFHIL
ADEJKL
Caracteristica operativa a planului de control de recepție atributiv prin sondaj:
Rep var prob de resp a lotului in f de prop de defecte din lot
Rep var prob de accept a lotului in f de prop de defecte din lot
Este cu atat mai abrupta cu cat controlul este mai putin sever
Este cu atat mai abrupta cu cat conrolul este mai sever
Comparând metodele neparametrice, respectiv parametrice de estimare a indicatorilor de fiabilitate, care dintre următoarele aserțiuni sunt valabile?
Metodele parametrice permit o mai buna valorif a rez incercarii
Metodele neparametrice permit extrapolarea pentru durate de timp dif
Metodele parametrice permit extrapolarea indicatorilor de fiabilitate pentru durate de timp dif
Metodele neparametrice permit o mai buna valorificare a rez
Conform normativului MIL-STD-105E / ISO 2859 se definesc un număr de:
7 niv 3 gen 4 speciale
9 niv 4 gen 5 speciale
5 niv 2 gen 3 speciale
4 niv 2 gen 2 speciale
O componentă de nivel de fiabilitate „grand-public” are:
Rata de defectare mai mare de 10^-6 ore-1
Rata de defectare mai micade 10^-6 ore-1
Rata de defectare mai mica de 10^-6 ore
Functia de fiab mai mica de 0.99
Pentru diagrama de fiabilitate de mai jos: Sunt TĂIETURI minimale următoarele combinații:
ABCE
BCD
LNOP
ALMOQ
Se consideră diagrama de fiabilitate de mai jos, unde RA =...= Re = 0,8. Pentru sistemul considerat rezultă funcţia de NONfiabilitate: FS =
0.506
0.606
0.306
0.406
Sunt modele de fiabilitate bazate pe insucces (defectare):
AMDEC / FMEA
Arbori de defectare
Arbori de evenimente
Retele Petri
Pentru un televizor, lipsa imaginii constituie: un defec ... cu AQL in gama ....
Critic, 0.1 - 0.4 %
Minor tip A 1.5 - 4 %
Major, 1.5 - 4 %
Major 0.4 - 1.5 %
Pentru o componenta electronica se cunoaște: Pe această bază se poate calcula: f(t) = c1L1 exp (-L1t) + c2L2 exp(-L2t)
Fc de fiab R(t) = (c1+c2) exp(-L1t) + (c1+c2) exp(-L2t)
Fc de fiab R(t) = c1exp (-L1t) + c2exp(-L2t)
Fc rep timp fct F(t) = c1exp (-L1t) - c2exp(-L2t)
Fc rep timp fct F(t) = c1exp (-L1t) + c2exp(-L2t)
Standardul ISO 9000 este utilizat pentru:
Certif calitatii prod unei companii
Certif sistemului de manag al calitatii unei companii
Dpecificarea terminologiei pentru certificarea sistemului de management al securitatii IT al unei companii
Niciun rasp
Securitatea și siguranţa în funcţionare:
Sunt concepte identice
Sunt concepte diferite
Siguranta in functionare este comp dinamica a securitatii
Securitatea este componenta dinamica a sigurantei in functionare
Pentru o componentă electronică se cunoaște: R(t) = 3 exp (-Lt) - 3 exp (-2Lt) + exp (-3Lt)
Disp timp de buna funct D = 16/6L
Med timp de b fct m = 15/6L
Med timp de b fct m = 9/6L
Med timp de b fct m = 11/6L
M = 3 / 1 - 3 / 2 + 1 / 3 = (18 - (9 -2)) / 6 = 11 / 6
Standardele ISO 27001 sunt utilizate pentru:
Niciun ras
Certif calitatii si sec prod unei comp
Certif sistem de manag al sec IT al unei comp
Atat pt certif cal si sec prod compani cat si sertif sist manag sec IT comp
Pentru o componenta electronica se cunoaste: f(t) = c1L1 exp (-L1t) + c2L2 exp(-L2t)
M = l1 / c1 + l2 / c2
M = l1 / 2c1 + l2 / 2c2
M = c1 / l1 + c2 / l2
D = c1 /l1 + c2 / l2
Daca pentru o componenta - având legea uzuala de distribuție pentru componente electronice - rata defectărilor este de 10-2 ore”, cuantila de ordinul 0,2 a timpului de funcționare este:
10 ^-2 ln(1/0.8) h
10 ^2 ln(1/0.2) h
10 ^2 ln(1/0.8) h
10 ^-2 ln(1/0.2) h
Standardul ISO 27000 este utilizat pentru:
Specif termin pt certif sist manag sec IT
Niciun
Certif calit si sec prod
Certif sist manag sec IT
Sunt modele de fiabilitate bazate pe succes (buna functionare):
Diagrame de fiabilitate
Grafurile de fiab
FMECA
Diagrame cauza efect
O diagramă cauză-efect este o combinaţie între:
Arb even si retele Petri
Arb de even si arb de defect
Arb de defectsi arb de fiab
Arb de defect si arb de fiab
Indicatorul de fiabilitate caracteristic componentelor electronice (data de catalog) este:
Frecv defect
Funct fiab
Funct rep a timp fct
Rata de defectare
Calitatea si conformitatea:
Calit este latura statistica a conform
Conform este latura dinam a calitatii
Sunt concepte identice
Conform este latura statistica a calitatii
Standardul ISO 9001 este utilizat pentru:
Certif calit prod comp
Atat pt certif prod comp cat si pentru certif sistem de manag a cal
Niciunul
Certif sistm manag calitate
Se consideră diagrama de fiabilitate de mai jos, unde Rg =...= Re = 0,8. Pentru sistemul considerat rezulta funcția de FIABILITATE: RS =
0.394
0.694
0.494
0.594
Pe baza rezultatelor unei încercări de fiabilitate efectuate asupra unui eșantion de n = 100 de componente electronice:
.
{"name":"CAF Final", "url":"https://www.quiz-maker.com/QPREVIEW","txt":"Test your knowledge on reliability, quality control, and electronic components with our comprehensive CAF Final Quiz. Designed for students and professionals alike, this quiz will challenge your understanding of important concepts and standards in the field.Join us to explore topics such as:Reliability metricsQuality assurance standardsStatistical process controlFailure rate and non-failure analysisQuality control methodologies","img":"https:/images/course6.png"}