Grile RD
Test Your Knowledge in Digital Circuit Testing
Welcome to our quiz designed for electronics enthusiasts and professionals alike! This quiz focuses on various aspects of digital circuit testing, including reliability, testing methodologies, and circuit design.
- Evaluate your understanding of critical concepts.
- Explore topics in ISO standards and testing strategies.
- Challenge yourself with questions on advanced technologies like RAID and LFSRs.
The structure in the image is typical for:
LNRG (Lightweight Random Number Generator)
BIST (Built-In Self-Test)
JTAG (Boundary Scan)
The process examining that in the system’s development cycle, the result of a phase satisfies the requirements established during the previous phase, is called:
Attestation
Verification
Validation
Fault latency means:
Low frequency testing
Slow propagation of the test
Late apparition of the error
The ability to obtain known values on the outputs as response to a set of given input stimuli means:
Predictability
Controllability
Observability
The process attesting that at the end of the development process, the result is according to the system requirements, is called:
Evaluation
Verification
Validation
What is the main advantage of RAID 1 (mirroring)?
Magneto-resistive memory
Faster access to data
Better data reliability
The “bathtub” graph refers to:
The evolution of the mean time between failures in time
The evolution of maintainability in time
The evolution of the failure danger in time
What is the main purpose of dynamically decreasing the voltage and frequency in processors?
Better performance
Longer battery life
Easier testability
Online testing of digital circuits means:
The system is configured and connected to the network
Testing the system’s power lines
Testing the systems during its normal functioning
The total probability formula method means:
Computing the test coverage for test generation using binary coefficient polynomials
Computing the total dispersion probability for the Gauss distribution
Computing the reliability of a system that cannot be decomposed in series and parallel structures
LFSRs (Linear Feedback Shift Registers) are used in testing for:
Capturing inputs/outputs of low-programmable circuits
Pseudo-random generation of input sequences
Compression of output sequences at nominal frequency
Observe these two formulae for series and parallel reliability indicators. Mark the correct answer.
Only the formula for series is correct
Both formulae are correct
Only the formula for parallel is correct
Within ISO 9000, ISO recognizes the competence of an independent institution in verifying the quality management system of an organization and in attesting that it complies with the requirements of the standard. This process is called:
Habilitation
Certification
Accreditation
Why is “concurrent engineering” good?
Because competition fosters innovation and drives down prices
Because parallel processing is more efficient for neural networks
Because it considers all aspects of the product’s development and life
The ability to find out the value on any node of the circuit by setting values on the primary inputs and measuring the primary outputs means:
Observability
Predictability
Controllability
What is the main purpose of dynamically increasing the voltage and frequency in processors?
Longer battery life
Easier testability
Better performance
IDDQ testing is about:
Qualifying the dominant tests by prioritizing them
Measuring the quiescent current consumed by the circuit
Quality with respect to the data within the device
When there is a difference between the good and the bad version of the circuit, on the same output, we talk about:
Excited fault
Short
Error
Observe these two formulae for series and parallel reliability indicators. Mark the correct answer.
Both formulae are correct
Only the formula for series is correct
Only the formula for parallel is correct
Offline testing of digital circuits means:
The system is disconnected from the data network
The system is only used for testing
Testing of the secondary lines of the system
What is the probability of proper working for a product lot at the moment t=MTBF?
1/z
1/MTBF
1/e
How can we simplify a sequential circuit, to compute the test vectors?
By replicating the structure, in its successive sequential states, in a big combinational circuit
By finding the equivalent and dominant faults, for all the EXCLUSIVE-AND gates in the circuit
By analyzing the fault coverage dispersion for the probability of proper working
Which sequences would work properly? Mark all the correct answers.
0%
0
0%
0
0%
0
What is the main advantage of RAID 0 (Striping)?
Faster access to data
Magneto-resistive memory
Better data reliability
What does "yield" mean, in integrated circuit manufacturing?
The heat/radiation treatment of circuits destined for harsh environments
The compromise of lowering the frequency to get more stability
The ratio of defect-free products out of all products manufactured
A set of phones was tested for 150 hours. During this time, 3 failed. How much is the failure danger?
50 failures/hour
450 failures
2%
In testing, compacting the output refers to:
Maintaining the output in a high impedance state, to test another circuit
Calculating a digital signature of the output, to reduce the storage needs
Designing the circuit with fewer outputs, for high testability
Structura din imagine este tipică pentru:
JTAG (Boundary Scan)
BIST (Built-In Self-Test)
LRNG (Lightweight Random Number Generator)
În cadrul ISO 9000, un institut independent extern verifică sistemul de management al calității al unei organizații și îi recunoaște conformitatea cu cerințele din standard. Acest proces se numește:
Abilitate
Certificare
Acreditare
Câte defecte de tip blocat-la singular sunt posibile într-un circuit care are în total (interne+externe) 8 linii?
64
16
8
Noțiunea de ”aliasing” în testare se referă la:
O combinație de intrare poate rezulta în ieșiri corecte, chiar dacă un defect este prezent în circuit
Un test se poate folosi pentru detectarea mai multor defecte blocat-la duale în circuit
Un echipament de testare poate fi utilizat pentru testarea mai multor circuite care au aceeași structură
Care sunt dezavantajele testarii online concurente?
Latență foarte mare
Hardware suplimentar mare
Nu se pot detecta defecte tranzitorii
Necesită echipamente de test automat
Care dintre relațiile de cauzalitate este cea corectă?
Eșec -> defect -> defecțiune
Defect -> defecțiune -> eșec
Eșec -> defecțiune -> defect
Defecțiune -> eșec -> defect
Defecțiune -> defect -> eșec
Defect -> eșec -> defecțiune
Asociați noțiunile cu definițiile corespunzătoare:
Noțiuni: 1.Controlabilitate; 2.Observabilitate; 3.Predictibilitate
Definiții: a.Abilitatea de a obține valori cunoscute pe ieșiri ca răspuns la un set de stimuli de intrare; b.Abilitatea de a stabili o valoare de semnal specificată într-un anumit nod al circuitului prin setarea de valori pe intrările primare; c.Abilitatea de a determina valoarea semnalului într-un anumit nod al circuitului prin controlul intrărilor primare și observarea ieșirilor primare
1-c, 2-a, 3-b
1-b, 2-c, 3-a
1-a, 2-c, 3-a
1-a, 2-b, 3-c
1-b, 2-a, 3-c
Care dintre următoarele costuri sunt legate de procesul de testare? Marcați toate răspunsurile corecte.
Costul generării vectorilor de test
Costul generării informației de localizare a defectelor
Costul legat de plata managerilor
Costul echipamentului de producție a unității de testare
”Din punct de vedere al siguranței, software-ul eșuează în mod diferit față de hardware.” Care dintre următoarele argumente vin în sprijinul afirmației anterioare? Marcati toate raspunsurile corecte.
În software nu trebuie aplicată aceeași disciplină ca în hardware
Două module software diferite nu eșuează în mod independent
Software-ul nu aduce mai multă flexibilitate față de hardware
În mod uzual, riscul legat de software nu descrește odată cu creșterea experienței de operare
Care dintre următoarele ipoteze sunt specifice modelului Jelinski-Moranda de evaluare a fiabilității programelor?
Se ia în considerare atât timpul de operare al programului cât și timpul de testare
Intervalele de timp între defectările succesive sunt variabile aleatoare independente, distribuite după legi exponențiale, cu parametri posibil diferiți
Rata de defectare este proporțională cu numărul de erori latente ale programului
La fiecare defectare a programului se efectuează o depanare de durată neglijabilă, prin care se elimină o fracție dată c, constantă, din numărul total de erori N
Câte celule Boundary Scan sunt necesare pentru un pin bidirecțional?
2
3
1
4
Unde se poate folosi simularea cu defect? Marcati toate raspunsurile corecte.
La analiza operării circuitului, în prezența defectelor
La evaluarea gradului de configurabilitate al circuitului
Pentru a convinge managerul că echipa de testare lucrează eficient
La analiza testabilitatii
La construcția dicționarului de defecte, pentru diagnoză ulterioară
La calculul gradului de acoperire a defecțiunilor
Care este arhitectura de sistem care asigură cel mai bun compromis între siguranță și disponibilitate?
1oo2Dcomp
2oo2
1oo2D
2oo3
2oo2D
Identificați variantele cu semnalele corecte, aferente celulei Registrului de Instrucțiuni IEEE1149.1 din figură.
Mode și 6-UpdateIR și 9-TRST*
4-ShiftIR și 6-Mode și 9-Reset
4-ShiftIR și 6-UpdateIR și 9-TRST*
4-ShiftIR și 6-Update și 9-Reset
Care dintre răspunsurile următoare este corect?
1) În circuitele TTL defectele de tip scurtcircuit se modelează prin porți logice SAU.
2) În circuitele CMOS defectele de tip scurtcircuit se modelează prin porți logice ȘI.
Doar 2
Niciunul
1 și 2
Doar 1
Care sunt avantajele simulatoarelor hardware?
Viteză de lucru mare
Cost
Flexibilitate
Eficiență
Ce relatie exista intre MTBF_TMR si MTBF-ul unei componente (MTTF_simplex)?
MTBF_TMR < MTTF_simplex
MTBF_TMR > MTTF_simplex
Care dintre următoarele sunt reguli ad-hoc de proiectare pentru testabilitate? Marcati toate raspunsurile corecte.
Adăgarea de regiștri LSSD
Partiționarea circuitelor combinaționale mari
Activarea oscilatoarelor interne și a clock-urilor în timpul testului
Evitarea utilizării redundanței logice
Care sunt avantajele testului funcțional? Marcati toate raspunsurile corecte.
Este independent de specificații
Are capabilități de diagnoză
Nu necesită cunoașterea netlist-ului
Poate fi generat automat
Evaluare ușoară a gradului de acoperire a defectelor
Permite testarea at-speed
Care este complexitatea algoritmului March de testare a unei memorii din figura?
4n
4ln(n)
6ln(n)
6n
Ce valori au variabilele XXX și YYY din afirmația următoare?:
”Un domeniu de acceptare larg, pentru un test de acceptare, se asociază cu o sensibilitate XXX și o specificitate YYY”.
XXX-înaltă, YYY-scăzută
XXX-înaltă, YYY-înaltă
XXX-scăzută, YYY-înaltă
XXX-scăzută, YYY-scăzută
{"name":"Grile RD", "url":"https://www.quiz-maker.com/QPREVIEW","txt":"Welcome to our quiz designed for electronics enthusiasts and professionals alike! This quiz focuses on various aspects of digital circuit testing, including reliability, testing methodologies, and circuit design.Evaluate your understanding of critical concepts.Explore topics in ISO standards and testing strategies.Challenge yourself with questions on advanced technologies like RAID and LFSRs.","img":"https:/images/course3.png"}
More Quizzes
SEP
291418
Microelectronics (EE Review - ESAS)
251210
DSP Processors
10527
Quiz 7 & 8 CPSC 6125
1479
App prefinals 06
1168
Microprocessor set1 quiz
84126
QBank (OS)
2101050
01010010 01000101 01000001 01000100 01011001 00100000 01000110 01001111 01010010 00100000 01010100 01001111 01010010 01010100 01010101 01010010 01000101 00111111
10520
IOSPD exam - Buses
16836
SAP exam
8040391
ISTQB - Test Management
9425
CTFL 2018 Sample Exam A v 1.6
402040